作為五大常規(guī)無(wú)損檢測(cè)方法之一的射線(xiàn)檢測(cè)（Radiology）,，在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用,。目前射線(xiàn)檢測(cè)按照美國(guó)材料試驗(yàn)學(xué)會(huì)（ASTM）的定義可以分為：照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、層析檢測(cè)和其它射線(xiàn)檢測(cè)技術(shù)四類(lèi)。

、 　　X射線(xiàn)與自然光并沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別,，都是電磁波，只是X射線(xiàn)的光量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光,。它能夠穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體,，而且在穿透物體的同時(shí)將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用，可以使原子發(fā)生電離,，使某些物質(zhì)發(fā)出熒光,，還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部區(qū)域存在缺陷,，它將改變物體對(duì)射線(xiàn)的衰減,，引起透射射線(xiàn)強(qiáng)度的變化，這樣,，采用一定的檢測(cè)方法,，比如利用膠片感光，來(lái)檢測(cè)透射線(xiàn)強(qiáng)度,，就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置,、大小。
 
　　ΔI/I=-(（μ-μ’）ΔT)/(1+n)

　　這個(gè)公式就是射線(xiàn)檢測(cè)基本原理的關(guān)系式,，ΔI/I稱(chēng)為物體對(duì)比度,，從它我們可以得知，只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸,、其衰減系數(shù)與物體的線(xiàn)衰減系數(shù)具有一定差別,，并且散射比控制在一定范圍，我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對(duì)比度,，從而發(fā)現(xiàn)缺陷,。



射線(xiàn)檢測(cè)工藝分類(lèi)

1.膠片成像工藝
　　即射線(xiàn)照射被檢測(cè)物體,，透過(guò)的射線(xiàn)使膠片感光,，清洗膠片,，即可根據(jù)膠片的感光情況判斷被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量。這類(lèi)似于我們?nèi)梭w在醫(yī)院做拍片檢查,。
　　
2.數(shù)字成像工藝
　　經(jīng)過(guò)射線(xiàn)檢測(cè),，將被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量信息轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號(hào)，儲(chǔ)存或還原顯示出來(lái),。以反映被檢測(cè)物的內(nèi)部質(zhì)量情況,。


射線(xiàn)檢測(cè)的利弊

利：不損傷被檢物，方便實(shí)用,，可達(dá)到其他檢測(cè)手段無(wú)法達(dá)到的獨(dú)特檢測(cè)效果,，使用面寬，底片長(zhǎng)期存檔備查,，便于分析事故,，可以直觀(guān)的顯示缺陷圖像等。 　　

弊,；對(duì)人體有副作用甚至一定傷害,，對(duì)其他敏感物體有不良作用，對(duì)環(huán)境有輻射污染,。