作為五大常規(guī)無損檢測方法之一的射線檢測(Radiology),在工業(yè)上有著非常廣泛的應(yīng)用,。目前射線檢測按照美國材料試驗學(xué)會(ASTM)的定義可以分為:照相檢測、實時成像檢測,、層析檢測和其它射線檢測技術(shù)四類,。
、 X射線與自然光并沒有本質(zhì)的區(qū)別,,都是電磁波,,只是X射線的光量子的能量遠大于可見光。它能夠穿透可見光不能穿透的物體,,而且在穿透物體的同時將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用,,可以使原子發(fā)生電離,使某些物質(zhì)發(fā)出熒光,,還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng),。如果工件局部區(qū)域存在缺陷,它將改變物體對射線的衰減,,引起透射射線強度的變化,,這樣,,采用一定的檢測方法,比如利用膠片感光,,來檢測透射線強度,,就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小,。
ΔI/I=-((μ-μ’)ΔT)/(1+n)
這個公式就是射線檢測基本原理的關(guān)系式,,ΔI/I稱為物體對比度,從它我們可以得知,,只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸,、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別,并且散射比控制在一定范圍,,我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對比度,,從而發(fā)現(xiàn)缺陷。
射線檢測工藝分類
1.膠片成像工藝
即射線照射被檢測物體,,透過的射線使膠片感光,,清洗膠片,即可根據(jù)膠片的感光情況判斷被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量,。這類似于我們?nèi)梭w在醫(yī)院做拍片檢查,。
2.數(shù)字成像工藝
經(jīng)過射線檢測,將被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量信息轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號,,儲存或還原顯示出來,。以反映被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量情況。
射線檢測的利弊
利:不損傷被檢物,,方便實用,,可達到其他檢測手段無法達到的獨特檢測效果,使用面寬,,底片長期存檔備查,,便于分析事故,可以直觀的顯示缺陷圖像等,。
弊,;對人體有副作用甚至一定傷害,對其他敏感物體有不良作用,,對環(huán)境有輻射污染,。
、 X射線與自然光并沒有本質(zhì)的區(qū)別,,都是電磁波,,只是X射線的光量子的能量遠大于可見光。它能夠穿透可見光不能穿透的物體,,而且在穿透物體的同時將和物質(zhì)發(fā)生復(fù)雜的物理和化學(xué)作用,,可以使原子發(fā)生電離,使某些物質(zhì)發(fā)出熒光,,還可以使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng),。如果工件局部區(qū)域存在缺陷,它將改變物體對射線的衰減,,引起透射射線強度的變化,,這樣,,采用一定的檢測方法,比如利用膠片感光,,來檢測透射線強度,,就可以判斷工件中是否存在缺陷以及缺陷的位置、大小,。
ΔI/I=-((μ-μ’)ΔT)/(1+n)
這個公式就是射線檢測基本原理的關(guān)系式,,ΔI/I稱為物體對比度,從它我們可以得知,,只要缺陷在透射方向上具有一定的尺寸,、其衰減系數(shù)與物體的線衰減系數(shù)具有一定差別,并且散射比控制在一定范圍,,我們就能夠獲得由于缺陷存在而產(chǎn)生的對比度,,從而發(fā)現(xiàn)缺陷。
射線檢測工藝分類
1.膠片成像工藝
即射線照射被檢測物體,,透過的射線使膠片感光,,清洗膠片,即可根據(jù)膠片的感光情況判斷被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量,。這類似于我們?nèi)梭w在醫(yī)院做拍片檢查,。
2.數(shù)字成像工藝
經(jīng)過射線檢測,將被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量信息轉(zhuǎn)化成數(shù)字信號,,儲存或還原顯示出來,。以反映被檢測物的內(nèi)部質(zhì)量情況。
射線檢測的利弊
利:不損傷被檢物,,方便實用,,可達到其他檢測手段無法達到的獨特檢測效果,使用面寬,,底片長期存檔備查,,便于分析事故,可以直觀的顯示缺陷圖像等,。
弊,;對人體有副作用甚至一定傷害,對其他敏感物體有不良作用,,對環(huán)境有輻射污染,。