在最新一期的《科學(xué)》(Science.2012Nov15.)雜志上,,發(fā)表了一篇來自華盛頓大學(xué)醫(yī)學(xué)院,霍德華休斯醫(yī)學(xué)院等處的研究人員利用一種新型技術(shù)的文章,,研究完成了多達(dá)2446個(gè)樣品外顯子測(cè)序分析,找到了自閉癥譜系障礙(ASD,,Autism Spectrum Disorder)的多個(gè)頻發(fā)突變,,不僅為治療ASD疾病提供了新思路,而且也提出了一種低成本,,多基因測(cè)序新方法,。
領(lǐng)導(dǎo)這一研究的是華盛頓大學(xué)醫(yī)學(xué)院Jay Shendure副教授,以及Evan E. Eichler教授,,第一作者為Brian O'Roak,,這一研究組致力于自閉癥的分子機(jī)理研究。
自閉癥譜系障礙(ASD,,Autism Spectrum Disorder)是根據(jù)典型自閉癥的核心癥狀進(jìn)行擴(kuò)展定義的廣泛意義上的自閉癥,,既包括了典型自閉癥,也包括了不典型自閉癥,,又包括了阿斯伯格綜合癥,、自閉癥邊緣、自閉癥疑似等癥狀,。
讓人擔(dān)心的是,,目前此類疾病的患病概率很高——據(jù)相關(guān)報(bào)告顯示:平均每88個(gè)兒童中就有一個(gè)兒童患病。幾十年來,,科學(xué)家們一直在討論遺傳與環(huán)境因素對(duì)自閉癥的影響,,而關(guān)于基因成分與自閉癥關(guān)系的討論卻是近幾年才開始的,。
之前的三個(gè)研究組,,包括Eichler教授研究組在內(nèi)發(fā)現(xiàn)了引起兒童大腦變異從而導(dǎo)致其社交問題的上百種,甚至上千種基因突變,,但是要在大規(guī)模樣品基礎(chǔ)上,,進(jìn)行精確的重測(cè)序,尋找致病基因依然不容易,,而且成本高,。
在最新這篇文章中,,研究人員改進(jìn)了分子倒置探針(Molecular Inversion Probe,MIP)技術(shù),,從而研發(fā)出了一種新型多重靶向測(cè)序方法,,這種方法成本低,精確度高,,是基因測(cè)序技術(shù)的又一新發(fā)展,。
分子倒置探針技術(shù)與線性探針序列相比,能夠指數(shù)級(jí)減少由于線性引物序列所引起的交叉反應(yīng)及二聚體現(xiàn)象,,具備了分子掛鎖探針的優(yōu)點(diǎn),。這種探針由7部分序列組成:2個(gè)內(nèi)切酶識(shí)別位點(diǎn),可利用限制性內(nèi)切酶處理探針序列,,2段目的基因互補(bǔ)序列,,以及2段通用引物序列以及1段特異性標(biāo)簽序列。
利用這種技術(shù),,研究人員對(duì)兩千多位受到不同類型ASD影響的患者進(jìn)行了多基因分析,,完成了四十四種基因的測(cè)序,在其中十六種基因中發(fā)現(xiàn)了27種隨機(jī)突變,。并且研究人員發(fā)現(xiàn)了6種頻發(fā)突變:CHD8,,DYRK1A,GRIN2B,,TBR1,,PTEN和TBL1XR,這些基因高頻發(fā)生突變,,可能是造成1%偶發(fā)性的自閉癥譜系障礙的病因,。
這項(xiàng)研究結(jié)果揭示了自閉癥譜系障礙的分子病理機(jī)制,并提出了一種低成本,,多基因測(cè)序新方法,,這種方法可以用于可能是由隨機(jī)破壞性的突變風(fēng)險(xiǎn)造成疾病的遺傳分析。