在最新一期的《科學》（Science.2012Nov15.）雜志上，發(fā)表了一篇來自華盛頓大學醫(yī)學院,，霍德華休斯醫(yī)學院等處的研究人員利用一種新型技術(shù)的文章，研究完成了多達2446個樣品外顯子測序分析,，找到了自閉癥譜系障礙（ASD,，Autism Spectrum Disorder）的多個頻發(fā)突變，不僅為治療ASD疾病提供了新思路,，而且也提出了一種低成本,，多基因測序新方法。

領(lǐng)導(dǎo)這一研究的是華盛頓大學醫(yī)學院Jay Shendure副教授,，以及Evan E. Eichler教授,，第一作者為Brian O'Roak，這一研究組致力于自閉癥的分子機理研究,。

自閉癥譜系障礙（ASD,，Autism Spectrum Disorder）是根據(jù)典型自閉癥的核心癥狀進行擴展定義的廣泛意義上的自閉癥，既包括了典型自閉癥,，也包括了不典型自閉癥,，又包括了阿斯伯格綜合癥、自閉癥邊緣,、自閉癥疑似等癥狀,。

讓人擔心的是，目前此類疾病的患病概率很高——據(jù)相關(guān)報告顯示：平均每88個兒童中就有一個兒童患病,。幾十年來,，科學家們一直在討論遺傳與環(huán)境因素對自閉癥的影響，而關(guān)于基因成分與自閉癥關(guān)系的討論卻是近幾年才開始的,。

之前的三個研究組,，包括Eichler教授研究組在內(nèi)發(fā)現(xiàn)了引起兒童大腦變異從而導(dǎo)致其社交問題的上百種，甚至上千種基因突變,，但是要在大規(guī)模樣品基礎(chǔ)上,，進行精確的重測序，尋找致病基因依然不容易，而且成本高,。

在最新這篇文章中,，研究人員改進了分子倒置探針（Molecular Inversion Probe，MIP）技術(shù),，從而研發(fā)出了一種新型多重靶向測序方法,，這種方法成本低，精確度高,，是基因測序技術(shù)的又一新發(fā)展,。

分子倒置探針技術(shù)與線性探針序列相比，能夠指數(shù)級減少由于線性引物序列所引起的交叉反應(yīng)及二聚體現(xiàn)象,，具備了分子掛鎖探針的優(yōu)點,。這種探針由7部分序列組成：2個內(nèi)切酶識別位點，可利用限制性內(nèi)切酶處理探針序列,，2段目的基因互補序列,，以及2段通用引物序列以及1段特異性標簽序列。

利用這種技術(shù),，研究人員對兩千多位受到不同類型ASD影響的患者進行了多基因分析,，完成了四十四種基因的測序，在其中十六種基因中發(fā)現(xiàn)了27種隨機突變,。并且研究人員發(fā)現(xiàn)了6種頻發(fā)突變：CHD8,，DYRK1A，GRIN2B,，TBR1,，PTEN和TBL1XR，這些基因高頻發(fā)生突變,，可能是造成1%偶發(fā)性的自閉癥譜系障礙的病因,。

這項研究結(jié)果揭示了自閉癥譜系障礙的分子病理機制，并提出了一種低成本,，多基因測序新方法,，這種方法可以用于可能是由隨機破壞性的突變風險造成疾病的遺傳分析。