美國(guó)Apogeecx彩色B超故障分析與檢修
1,、故障現(xiàn)象
操作滾動(dòng)軌跡球時(shí),，測(cè)量標(biāo)記移動(dòng)失靈，星形標(biāo)記移動(dòng)速度時(shí)快時(shí)慢,，有時(shí)某一方位不受控,，故障無規(guī)律。
2,、分析與檢修
B超測(cè)量標(biāo)記的移動(dòng)原理是依靠軌跡球摩擦帶動(dòng)盒內(nèi)2根成直角放置的金屬桿,，桿上各有一個(gè)四周開孔的金屬圓片安放于各自的光電發(fā)射接收單元光路中。當(dāng)金屬片隨桿轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),，光線通過片上孔洞被接收單元轉(zhuǎn)換成相應(yīng)的電脈沖,，脈沖信號(hào)再經(jīng)有關(guān)電路放大處理后控制測(cè)量標(biāo)記沿X-Y軸方向移動(dòng)。從故障現(xiàn)象寸有時(shí)無且星形標(biāo)記有時(shí)還能受控現(xiàn)象分析,，說明有關(guān)測(cè)量標(biāo)記控制電路基本工作正常,，故障原因可能是有關(guān)電路元件虛焊或傳動(dòng)系統(tǒng)中有機(jī)械接觸不良。檢查重點(diǎn)應(yīng)放在軌跡球操作盒,。
打開操作面板,，卸下軌跡球盒的4個(gè)固定螺釘，分離下盒后打開上蓋,，只見盒內(nèi)布滿團(tuán)狀灰塵,，這種灰塵是由于滲入超聲耦合劑所致,。光電單元的光路縫隙中及金屬片上部分孔洞亦被這種灰塵填滿。當(dāng)某一光路被擋時(shí),，光電脈沖消失,，星形標(biāo)記便無法朝相應(yīng)方向移動(dòng)。當(dāng)光路中塵團(tuán)被金屬片帶出后故障就會(huì)暫時(shí)消失,。而金屬片部分圓孔被遮住時(shí),，軌跡球轉(zhuǎn)過同樣的弧度光電脈沖數(shù)比正常時(shí)減少，星形標(biāo)記移動(dòng)速度就減慢,。將光電單元及盒內(nèi)元件板上灰塵用毛刷及無水酒精反復(fù)清除干凈,，安裝復(fù)原后，故障排除,，使用正常,。
