斷層掃描分析法用于聯(lián)用色譜二維數(shù)據(jù)的解析 Ⅰ定性分析:原理與應用
提出一種對色譜 光譜二維數(shù)據(jù)進行信息處理的全新手段———斷層掃描分析法,。它以逐層“剝離”的方式對二維數(shù)據(jù)進行“斷層掃描” ,并結合褶合曲線分析理論進行數(shù)據(jù)挖掘 ,可實現(xiàn)色譜峰純度檢驗和歸屬判定,、重疊色譜峰解析與定量分析等功能 ,并最終獲得分析體系的全部定性定量信息,。本文介紹了斷層掃描分析法用于定性分析的原理及其在實驗體系中的應用情況,。結果表明 :斷層掃描分析法用于定性分析可實現(xiàn)色譜峰定性 (歸屬 )鑒別、純度檢驗以及選擇性區(qū)域的識別等 ,在中藥等復雜體系的分析中具有重要的研究意義和良好的應用前景,。
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